X射线测厚仪

超声波硬度计

里氏硬度计TH160/TH140/HLN-11A/TH110

粗糙度仪TR200/TR210/TR220

激光粗糙度仪

超声波探伤仪TUD300/TUD360/TUD310/TUD320/TUD210

洛氏硬度计TH300/TH320/TH550/HR150A

布氏硬度计TH600/HB-3000B/THI100

维氏硬度计

进口便携式硬度计

邵氏橡胶硬度计TH200/TH210

涂层测厚仪TT220/TT210/TT230/TT260

氧化膜测厚仪TT230

X射线测厚仪

超声波测厚仪TT100/TT110/TT120/TTT130/TT300/TT700/TT900/时代集团

红外线测温仪TI130/TI200/TI210/TI300/时代集团

雷泰红外线测温仪MT4/ST/MX系列/时代集团

测振仪TV100/TV110/TV200/TV300/时代集团

声级计／噪音计TES-1350／NA-28S/时代集团

裂纹测深仪RMG4015

金相显微镜

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更详细的产品分类

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	Ｘ荧光光谱仪 Thick800A	Ｘ荧光光谱仪Thick800A是专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。主要用于金属镀层（最多5层）的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定;黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
	X-RAY荧光测厚仪 FISCHER	FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。独一无二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM® V.6软件）
	X射线测厚仪 COSMOS-1	X线照射部可由WINDOWS尽面上取得照射部的表示。从准值仪照射测定物的位置，可由倍率变更机能来实现尽面上测出物放大。
	荧光X射线膜厚计 EX-3000	优越的显示机能测定部显示尽像的表示 X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置，可由倍率率更机能来实现尽面上测出物放大。

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